JHZK-VI真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀

定量測(cè)量、適用于真空開(kāi)關(guān)真空度的測(cè)量、真空開(kāi)關(guān)預(yù)防檢測(cè)儀器; 參考標(biāo)準(zhǔn)： DL/T846.9-2004 定量測(cè)量各種型號(hào)真空開(kāi)關(guān)滅弧室內(nèi)的真空度; 不需拆卸真空開(kāi)關(guān)即可測(cè)量; RS232通訊接口、實(shí)現(xiàn)真空度-離子電流曲線下載;

• 更新時(shí)間：2024-05-05
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• 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
• 產(chǎn)   地：上海寶山

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產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1、可定量測(cè)量各種型號(hào)真空開(kāi)關(guān)滅弧室內(nèi)的真空度
2、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量時(shí)不需拆卸真空開(kāi)關(guān)
3、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠
4、液晶漢字顯示，操作更加簡(jiǎn)單方便
5、可保存、打印、查看測(cè)試的試驗(yàn)數(shù)據(jù)
6、儀器帶有RS232通訊接口，可以連接計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)真空度-離子電流曲線下載、壽命估計(jì)等多種功能
7、儀器重量輕，攜帶方便
 
產(chǎn)品介紹

   隨著中壓開(kāi)關(guān)無(wú)油化浪潮的興起，真空開(kāi)關(guān)以其*的優(yōu)點(diǎn)得到了廣泛的推廣和應(yīng)用。由于生產(chǎn)工藝和現(xiàn)場(chǎng)使用環(huán)境方面的原因，有些真空開(kāi)關(guān)在運(yùn)行過(guò)程中其真空 滅弧室會(huì)有不同程度的泄漏，有的在正常壽命范圍內(nèi)就可能泄漏到無(wú)法正常開(kāi)斷的地步。在這種情況下進(jìn)行開(kāi)斷就會(huì)出現(xiàn)不能正常開(kāi)斷的現(xiàn)象而造成嚴(yán)重的后果。國(guó) 內(nèi)真空開(kāi)關(guān)事故大多是由此原因引起。所以加強(qiáng)定期或不定期檢測(cè)真空開(kāi)關(guān)真空度成了十分重要的環(huán)節(jié) 。
傳統(tǒng)的檢測(cè)方法是“耐壓法”，即真空開(kāi)關(guān)處于開(kāi)斷狀態(tài)下，在動(dòng)靜觸頭之間施加一定的電壓，檢測(cè)其泄漏電流的大小，由此推斷真空管的好壞。
這種方法的優(yōu)點(diǎn)是：操作簡(jiǎn)單；缺點(diǎn)是：只能定性地檢測(cè)真空管的好壞；而且真空度在10-4～10-1Pa之間無(wú)法準(zhǔn)確分辨，所以無(wú)法判斷泄漏的發(fā)展趨勢(shì)（即同一個(gè)真空開(kāi)關(guān)和上次相比有多大程度的泄漏）。
 
華中科技大學(xué)從九十年代初開(kāi)始研究真空開(kāi)關(guān)滅弧室真空度現(xiàn)場(chǎng)的定量檢測(cè)，經(jīng)過(guò)近十年的努力，于一九九九年獲得，并實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)場(chǎng)不拆卸定量測(cè)量。有了定量 測(cè)量的手段，不僅可以測(cè)量真空開(kāi)關(guān)真空度是否在正常范圍內(nèi)，同時(shí)更重要的是，對(duì)某些泄漏速度較快的真空開(kāi)關(guān)，通過(guò)歷年測(cè)量結(jié)果相比較，可以大致推斷它的壽 命，真正起到預(yù)防意外事故發(fā)生的目的。
 
2014年，本公司與華中科技大學(xué)合作，共同推出新型JHZK-VI 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀，是上一代產(chǎn)品的基礎(chǔ)上升級(jí)換代的產(chǎn)品。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，機(jī)型輕便小巧，測(cè)試時(shí)間更短，測(cè)量可靠性、穩(wěn)定性、精度更高，功能更加完善。
 
產(chǎn)品常用名稱(chēng)

 

真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀、開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀、斷路器真空度測(cè)試儀、高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀、高壓斷路器真空度測(cè)試儀、高壓開(kāi)關(guān)真空度測(cè)量?jī)x、真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀

產(chǎn)品參數(shù)